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反射膜厚仪

更新时间:2020-08-12

产品品牌:Semiconsoft

产品型号:MProbe NIR

产品描述:采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域

产品概述

采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。

测量范围: 100 nm -200um

波长范围: 900 nm -2500 nm

适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料),新材料可以很容易的添加,支持多重算法:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

测量指标:薄膜厚度,光学常数

界面友好: 一键式测量和分析。

实用的工具:曲线拟合和灵敏度分析,背景和变形校正,连接层和材料,多样品测量,动态测量和产线批量处理。

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